测试模拟eepron擦写次数远大于1000次,可能测试方法不对,大家是怎么测试的,无法擦写的话会出现什么现象,模拟eeprom数据会锁死还是清零,程序会不会跑飞
测试的话,你就测试反复擦除后,每次写入0,然后读出校验。
出错后的情况,那就很难预料了,反正出错后,0无法变成1,至于会引起什么问题,那就完全取决于出错的位置和前后指令了
- 这篇博客: STM32学习100步之第三十步——FLASH读写程序中的 注意FLASH存储器的擦写次数有限,大概10万次,因此切不可将擦写函数放入死循环中无限擦写,损坏FLASH,另外再往FLASH中写数据时,尽量选择靠后的地址进行写,防止打乱原有的程序存放的内容。STM32F103内部关于FLASH的库函数如下: 部分也许能够解决你的问题, 你可以仔细阅读以下内容或跳转源博客中阅读:
