集成电路测试pattern深度是什么概念?

在评估测试可行性的时候需要考虑到pattern深度,这是一个什么概念?为什么不同机台可允许的pattern深度不同?

在评估测试可行性时考虑到pattern深度是因为测试时所使用的pattern(测试模式或测试序列)对于被测设备或系统的工作状态有着重要的影响。Pattern深度是指测试序列中包含的测试步骤或测试向量的数量或长度,通常使用位或字节来表示。

不同的机台或被测系统因其硬件架构、设计特性或测试目标的不同,对测试模式或测试序列的最大深度会有不同的要求。较大的pattern深度可能会导致测试时间较长,测试覆盖率更高,但也可能需要更高的测试资源(如内存和计算能力)以及更高的测试成本。因此,在测试可行性评估中需要考虑到被测系统对pattern深度的要求,以确定最佳的测试方案和测试资源分配策略。

此外,不同的机台或被测系统对pattern深度的要求不同,可能还与它们的工作环境、系统复杂度、性能指标等因素有关。因此,需要在具体的测试应用场景中进行评估,以确定合适的pattern深度,以达到最佳的测试效果。