问题： 如何在一段时间内，测出DFT模式下Scan扫描测试链中，有多少个Scan_dff触发器被单粒子照射发生了翻转？要确定每个scan_dff触发器是否发生了翻转。背景： 现在需要对一个芯片进行单粒子试验，需要看看改芯片在照射下，一段时间内发生翻转的次数。