普通IO仿AD检测，通过所示电路，如何实现并编程

该单片机是普通io仿AD检测，电路如图所示，想知道为何能实现数值获取，以及单片机如何编程？

图中的C应该是电容吧（画成电阻有些干扰判断）
其实不大想答这题的，因为我盲猜这题是哪位老师给学生留下的课后作业。

首先明确一下问题的目标：
这电路应该是一个通过普通I/O进行AD检测的示例，实现的功能是通过一个普通I/O进行电路内NTC处温度的获取。
易知，温度是一个模拟量，而温度的数值是数字量，这个电路就是要获取温度信息。
由于温度是通过NTC的阻值变化来获取的，我们的目标就是获取NTC的当前阻值。

然后是总体思路：
我们观察电路，电路中有两个引脚，分别连接到了两个电阻，一个为固定56K的电阻，我们且称之为参考电阻。
另一个为NTC，NTC阻值根据温度发生变化。
两个电阻又与一个接地的电容相连。
不难看出，就单独来看，不管另一个电阻，NTC和参考电阻分别和电容形成了两个RC电路。
这样我们就可以通过计算电容的充放电时间来计算RC电路的阻值。（RC电路有τ=R×C，电路中的C是已知的，时间常数τ也就可知了，这部分不细说，自行百度）
当我们获取到NTC的阻值后，再根据已知的NTC电阻-温度变化曲线，查找对应阻值的温度，则实现了ADC转化

具体来看如何编程：
我们首先应该对参考电阻进行一次充放电电操作，获取参考的56K电阻下充满电的时间。
编程上，即将参考电阻所在引脚配置为输出，且输出高电平，NTC所在引脚配置为高阻态。待稳定后，再将参考引脚配置为输入，同时使用定时器进行计时，每次计时结束读取一次电位，得到从电容充满电的满电压，到电压低至会被单片机判定为低电平的电压的这个放电时间。计时间隔应该比较小，不然可能抓不到数据。
再对NTC所在引脚执行相同操作，获取另一个时间。RC电路的电阻大小和充放电时间是成正比的，直接计算出NTC阻值，再根据阻值映射到温度即可。

这个设计实际上是很理想化的，存在不少的漏洞，如：引脚切换模式是需要时间的，这个时间按以上方式，会被计算在放电时间内；NTC所在电路会有干扰，所以要准确的话，可能需要考虑计算R56和NTC的总电阻，并将两个引脚都配置为输入来计算NTC的放电时间，但这又会带来单片机另一个引脚作为输入时的干扰。

总的来说，这题目更偏向于微电子方向，主要考察RC电路的特性和单片机引脚的一些模式配置。作为一个嵌入式软件工程师，我上面只是大概给了思路，并大致将每个模块涉及的知识点点出来了。如果有不懂可以搜索相关知识点进行拓展学习。

码字不易，望采纳。

我的看法与一楼一样，这个是典型的RC充放电模型，主要靠充满电的时间对比参考电阻的充满电时间来判断电阻大小，但是不能测量电压。

你想了解AD转化，就需要了解转换原理，没有芯片型号，不知道用那种转换，但归根到底是比较，通过比较电路，转换成数字信号，0，1，比如该电路，温度信号转换成电压值，然后将电压值与标准电压比较，8位ADC精度是1/256，量程如果是10v，那么实际电压与0/256，1/256，2/256.。。。。。。比较，就能得到一组0和1组成的数字量值，这一组信号就是可以给单片机的数字量，单片机通过数据转换就能得到对应的温度值