我想研究环形振荡器在时间老化下,振荡频率的变化。
我使用的是lever=54的65nm的PTM MOS管模型。
Hspice的用户手册里面的老化模型参数好像不对,我加上去并没有频率的变化?哪位仁兄可以提供一下NMOS和PMOS老化的模型吗?
或者哪位仁兄有环形振荡器或者其他电路的hspice老化实例,给我参考一下。
我想实现环形振荡器随时间的老化仿真。
很少有老化的数据,只能曲线救国路线。
FPGA 中具有更高可靠性的抗老化
https://dforte.ece.ufl.edu/wp-content/uploads/sites/65/2021/01/ReConFig_2017_paper_28.pdf
老化对延迟 PUF 可靠性的影响
https://www.csee.umbc.edu/~nkarimi/papers/JETTA18.pdf
耐老化环形振荡器 PUF 设计
https://past.date-conference.com/date18/files/proceedings/2014/pdffiles/04.3_1.pdf
可靠性感知设备紧凑建模和含义
https://briefs.techconnect.org/wp-content/volumes/TCB2016v4/pdf/607.pdf
你好,这里是Hspice mosra环形振荡器RO的老化仿真内容,请查收
我觉得上面两个说的有比较有道理。。。