STM32F030硬件IIC低温测试异常

最近在使用STM32F030的硬件IIC操作EEPROM时,发现一个问题:

在常温下,STM32F030的硬件IIC工作正常,时序正常,在低温箱(零下40度)里工作约2个小时后,硬件IIC工作异常,且时序也乱了.
异常时序表现为:不论是读还是写,仅从机地址+读写地址所对应的时序正常,之后,SCK一直保持低电平,一段时间后,SCK时钟输出正常,但SDA数据异常.整始位及结束位正常,具体时序图如下:

由于软件模拟IIC太耗时了,只能使用硬件IIC.
不知道有没有哪位高人能够指点一下,感激不尽.

找一下I2C的IP文档看一下，试着调到低速模式测试一下

你这个只能够找IC厂了啊，一般很难解决

https://wenku.baidu.com/view/ed50c3c7cc17552706220874.html

有可能是EEPROM器件问题，你先查一下EEPROM的正常工作温度范围和通讯频率范围。特别注意一下时钟拉伸问题( clock stretch)。

感谢各位的回答,
我尝试将IIC的速率降到10K(之前是100K),EEPROM参数存储正常

您好，想先也在弄这个芯片的硬件IIC，碰见了点问题，能不能把你硬件IIC这部分的代码给我分享一下，谢谢了，万分感谢。邮箱932401514@qq.com