毕设做元器件的缺损检测，我通过灰度化、滤波、sobel检测外观后。 为了检测出缺陷有人指点我可以 获取四个角的坐标，再通过模板的四角坐标仿射后，减去模板图像 那么应该如何获取模版和检测图的四个角坐标左模版，右缺陷
http://blog.csdn.net/haima1998/article/details/73441515
